"Mesures Topographiques" [Equipements PARK SYSTEMS]

PARK SYSTEMS NX10

 

Le matériau piézo-électrique a été largement utilisé depuis l'invention de l'AFM en tant qu'actionneur du scanner de positionnement dans un microscope à force atomique. Il a été utilisé non seulement dans l'instrumentation académique, mais dans les produits commerciaux AFM en raison de sa simplicité de structure, et de sa possibilité de se déplacer en continu à l'échelle du nanomètre. Cependant, il a également été associé à un phénomène d'hystérésis et de fluage générant des erreurs qui ont empêché les AFM classiques de fournir une topographie précise d'un échantillon.

 

C'est la raison pour laquelle PARK SYSTEMS a développé l'AFM NX10 et l'a associé à un détecteur Z de très faible bruit permettant ainsi un véritable balayage/suivi de la topographie AFM d'un échantillon.

 

 

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