FlexSEM 1000 Hitachi Microscope Electronique à balayage (MEB) compact

Hitachi High-Technologies

Le MEB compact Hitachi modèle FlexSEM 1000 est modulable. Il peut être utilisé comme MEB de table ou comme MEB conventionnel avec les performances d’un microscope électronique à filament tungstène haut de gamme. Le FlexSEM 1000 peut être utilisé en modes « vide secondaire » et « vide partiel ».

Microscope Electronique à balayage (MEB) compact FlexSEM 1000 Hitachi

- Résolution avec détecteur SE : 4nm à 20kV

- Résolution avec détecteur BSE : 5nm à 20kV

- Tension d’accélération ajustable de 0,3 kV à 20kV

- Mode pression variable avec détecteur d’électrons secondaires spécifique (détecteur UVD)

- Pression de consigne ajustable de 6 Pa à 100Pa

- Platine motorisée avec déplacements en continu sur les 5 axes : X, Y, Z, R, T

- Nouvelle interface graphique intuitive pour prise en main rapide et facile

- Impact écologique : faible encombrement (gain de place de 52% et de poids de 45% par rapport au modèle précédent), faible consommation électrique (réduite de 50% par rapport au modèle précédent), pas de fluides ou de gaz nécessaires

tl_files/elexience/productPhysique/microscopie-electronique-a-balayage/FlexSEM 1000 DOC 2.jpg

Présentation du FlexSEM 1000 :

Cliquez ici pour voir la vidéo

9, rue des petits-ruisseaux | BP 61 | 91371 Verrières-le-buisson Cedex | FRANCE | Tel : +33 (0)1 69 53 80 00 | Fax : +33 (0)1 60 11 98 09 | Plan d'accès | Mentions légales