Microscope à force atomique Park Systems NX12

Park Systems

NX12

Une plate-forme de microscopie polyvalente pour les chercheurs en chimie analytique et les installations communes regroupant :

  • Un microscope à force atomique permettant l'imagerie à résolution nanométrique avec des capacités de mesure de propriétés électriques, magnétiques, thermiques et mécaniques.
  • Un système de balayage à base de pipette pour la microscopie à conductivité ionique (SICM), la microscopie électrochimique à balayage (SECM) et la microscopie électrochimique par cellule à balayage (SECCM).
  • Un microscope optique inversé (OIM) pour la recherche sur des matériaux transparents et l'intégration de microscopie de fluorescence.

Construit sur les performances éprouvées de l’AFM Park Systems NX10, le NX12 couple la polyvalence et la précision des AFM Park Systems à un microscope optique inversé rendant possible l’étude des propriétés électrochimiques d’échantillons transparents, opaques, tendres ou encore durs.

Plate-forme idéale pour l'électrochimie fondamentale (batteries, piles à combustible, capteurs, corrosion), l’AFM Park Systems NX12 offre toutes les fonctionnalités et la flexibilité sur une plateforme simple et facile à utiliser.

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