Microscope à force atomique Park Systems XE15

Park Systems

LE choix économique pour l’analyse sur de larges échantillons

XE15

Le Park Systems XE15 comprend de nombreuses fonctionnalités uniques qui le rendent idéal pour les laboratoires et centres de recherche qui traitent de grands volumes et ont besoin d'un AFM qui peut gérer un large éventail d'échantillons.

 

-La fonctionnalité unique « multi sample scan » permet de réduire les temps d’arrêt machine.

-La capabilité de gérer des échantillons de 200 mm x 200 mm augmente les possibilités.

-Les nombreux modes de scan permettent de s’adapter à tous les besoins.

-Parfait pour les laboratoires partagés et les installations multi-utilisateurs.

 

 

SCANNER

XY : 100µm x 100µm

Z : 12µm (25µm optionnel)

Bruit topographique < 0.05nm

OPTIQUE

Objectif : 10x (20x optionnel)

 

STAGE

XY : 150mm x 150mm

Z : 27.5mm

Focalisation : 20mm

Taille échantillon : 150mm ; épaisseur < 20mm

 

ELECTRONIQUE

DSP : 600MHz ; 4800MIPS

ADC : 20 canaux 16bits

DAC : 21 canaux 16bits

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