Microscope à force atomique Park Systems NX10

Park Systems

LE choix pour une recherche innovante

NX10

LE choix pour une recherche innovante

L’AFM Park Systems NX10 produit des données nanométriques fiables et reproductibles que vous pouvez rapidement publier. De la mise en place des paramètres d’imagerie, à la mesure puis l'analyse, l’AFM Park Systems NX10 vous fait gagner du temps à chaque étape.

 

Le mode automatique Park Systems « SmartScan »

La fonctionnalité automatique du logiciel Park Systems « SmartScan » effectue toutes les opérations nécessaires permettant de définir intelligemment la qualité d'image et la vitesse de balayage optimales, et ce, de façon autonome.

 

La technologie Park Systems « Crosstalk Elimination »

L’AFM Park Systems NX10 produit des données fiables, reproductibles que vous pouvez facilement publier. Il dispose du seul mode « true non-contact » permettant de prolonger la durée de vie de la pointe tout en préservant votre échantillon, l’indépendance des scanner XY et Z lui assure par ailleurs une précision et une résolution inégalée.

 

Les modes avancés Park Systems

L’AFM Park Systems NX10 dispose de la plus large gamme d’options et de modes SPM disponible dans l'industrie.

 

Le module SICM

Le module SICM (microscopie par conductance ionique) permet à l’AFM Park Systems NX10 d’effectuer des images à l'échelle nanométrique pour une large gamme d'applications : de la biologie cellulaire, à la chimie analytique, l’électrophysiologie ou encore la neuroscience.

Il est dès lors possible pour des études d’électrochimie de jumeler les recherches sur les mécanismes de réaction liés à la chimie redox avec la possibilité de cartographier la topographie de l'échantillon. Pour des applications telles que le développement de batteries de nouvelle génération, ceci permet de mesurer la performance d'une batterie par rapport à sa dégradation à l'échelle nanométrique.

Pour des applications en biologie cellulaire, il est dès lors possible d’étudier des cellules vivantes sans les déranger (aucune force appliquée contrairement à l’AFM).

 

Pour regarder la présentation du module SICM, cliquez ici.

 

tl_files/elexience/productPhysique/Microscopie a force atomique/Park systems NX10.jpg

 

Cliquez ici pour avoir plus d'informations sur le produit.

Cliquez ici pour visiter le site en Français.

9, rue des petits-ruisseaux | BP 61 | 91371 Verrières-le-buisson Cedex | FRANCE | Tel : +33 (0)1 69 53 80 00 | Fax : +33 (0)1 60 11 98 09 | Plan d'accès | Mentions légales